خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 154726
Doc. No : ET26518
Main Entry : Michael Ott, B.A.Sc.
Title Proper : Quantitative Capacitance Measurements Using a Scanning Probe MicroscopeET C A L I B ~ RIQUEMENTET C A L I B ~RIQUEMENT.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : This thesis describes the theory, simulation and experimental implementation of amethod by which an atomic force microscope with scanning capacitance microscopy(SCM) capability can be employed in a nontraditional fashion to quantitatively measurethe capacitance of metal-oxide-semiconductor (MOS) structures..
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL50791.pdf
Title and statement of responsibility and : Quantitative Capacitance Measurements Using a Scanning Probe MicroscopeET C A L I B ~ RIQUEMENTET C A L I B ~RIQUEMENT.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)