خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 154349
Doc. No : ET26141
Main Entry : DANIEL FELNHOFER
Title Proper : Characterization of Electronically Active Defects in Hafnium Dioxide High-K Gate Dielectrics.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : The trapping behaviour of electronic defects in high-K, Hf02, metal-oxide-semiconductor (MOS) capacitors was investigated using capacitance-voltage and.
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL50414.pdf
Title and statement of responsibility and : Characterization of Electronically Active Defects in Hafnium Dioxide High-K Gate Dielectrics.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)