خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 153899
Doc. No : ET25691
Main Entry : NADER GHATTAS
Title Proper : BUILT-IN SELF-TEST AND SELF-REPAIR ARCHITECTURE FOR DEFECT-TOLERANT WORD-ORIENTED LARGE CAPACITY MEMORIES.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : Nowadays, SRAM chips use sub-micron technology to achieve high capacity memories.An increase in the memory capacity beyond the technology limits will normally result invery poor yields. The defect tolerance becomes then of a great importance for therealization of ultra-large capacity memory chips..
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL49957.pdf
Title and statement of responsibility and : BUILT-IN SELF-TEST AND SELF-REPAIR ARCHITECTURE FOR DEFECT-TOLERANT WORD-ORIENTED LARGE CAPACITY MEMORIES.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)