خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 153520
Doc. No : ET25312
Main Entry : Seyed Saeid HASHEMI AGHCHEH BODY
Title Proper : CHARACTERIZATION OF INTEGRATED MOS CIRCUITS UNDER VOLTAGE STRESS AND APPLICATION TO POWER CONVERSION CHAINS OF ELECTRONIC IMPLANTS.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : New sub-micron technologies improve the performance and efficiency of the integratedcircuits. Taking advantages may bring some limitations in certain applications. For.
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL49562.pdf
Title and statement of responsibility and : CHARACTERIZATION OF INTEGRATED MOS CIRCUITS UNDER VOLTAGE STRESS AND APPLICATION TO POWER CONVERSION CHAINS OF ELECTRONIC IMPLANTS.POMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)