خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 153254
Doc. No : ET25046
Main Entry : Richard Xuesong Qi
Title Proper : Electrostatic Force Microscopy and Atomic Force Microscopy's Applications to Integrated Circuit Internal Signal MeasurementsPOMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : Measuring the signals at the internal nodes of integrated circuits is important for the de-sign verification and failure analysis of advanced microelectronics. Technological break-throughs in the evolution of the VLSI (Very Large Scale Integration) design and the mi-.
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL49260.pdf
Title and statement of responsibility and : Electrostatic Force Microscopy and Atomic Force Microscopy's Applications to Integrated Circuit Internal Signal MeasurementsPOMPES PAR TRANSITIONS MULTIPLES [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)