خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 151220
Doc. No : ET23012
Main Entry : Jose F. Rivero
Title Proper : THERMAL AND STRESS ANALYSIS OF HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTOR
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : The objective of this work is to perform the current induce thermalstress analysis of heterojunction bipolar transistor and to determine theimplications of the variation of the thermal shunt thickness. A thesis presentedon multi-physics using finite element analysis. covering fluid. thermal andstress with fatigue life analysis of a microelectronic heterojunction bipolartransistor.-....,....-...,..tested for theQ1 PC1 bus cardBoth these projects mere sofixare des elopment efforts tonards contributing to dlfferentaspects of Roboucs and lZ1echatronics projects m the Controls and Roboucs Group..
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL46241.pdf
Title and statement of responsibility and : THERMAL AND STRESS ANALYSIS OF HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTOR [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)