خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 149473
Doc. No : ET21265
Main Entry : ARUN RADHAKRISHNAN, B.S.
Title Proper : TESTING NON-CONVENTIONAL FAULTS IN NANO CMOS
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : Rapid progress of technology towards ultra deep submicron (UDSM) nanoscale systemshas created new problems in test. While the device dimensions and supply voltage scaledown, number of transistors/die and operating frequency increases. Among several problemsthat arise in nanoscale systems, testing systems for power-supply noise and processvariation is discussed in this work..
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL44421.pdf
Title and statement of responsibility and : TESTING NON-CONVENTIONAL FAULTS IN NANO CMOS [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)