خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
Document Type : Latin Dissertation
Language of Document : English
Record Number : 148693
Doc. No : ET20485
Main Entry : Todd Dinkelman
Title Proper : CHIP DESIGN FOR LINEAR FEEDBACK SHIFT REGISTER TEST PATTERN EMBEDDING
Note : This document is digital این مدرک بصورت الکترونیکی می باشد
Abstract : The use of linear feedback shift registers (LFSR) for built-in self-test (BIST) invery large scale integration (VLSI) design is impacted heavily by the seed polynomial ofthe LFSR and the extra logic required to produce the desired test patterns. This workidentifies a mechanism that facilitates a search for finding an appropriate characteristicpolynomial and seed for a given set of test patterns. Resulting from this is a LFSR that.
Subject : Electericl tess
: برق
electronic file name : TL43622.pdf
Title and statement of responsibility and : CHIP DESIGN FOR LINEAR FEEDBACK SHIFT REGISTER TEST PATTERN EMBEDDING [Thesis]
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)